این سایت در حال حاضر پشتیبانی نمی شود و امکان دارد داده های نشریات بروز نباشند
صفحه اصلی
درباره پایگاه
فهرست سامانه ها
الزامات سامانه ها
فهرست سازمانی
تماس با ما
JCR 2016
جستجوی مقالات
یکشنبه 23 آذر 1404
International Journal of Nanoscience and Nanotechnology (IJNN)
، جلد ۱۰، شماره ۲، صفحات ۷۹-۹۶
عنوان فارسی
چکیده فارسی مقاله
کلیدواژههای فارسی مقاله
عنوان انگلیسی
Analysis of Frequency Leakage in Different Optical Paths of Nano-Metrology Systems Based on Frequency-Path Models
چکیده انگلیسی مقاله
The drawing of frequency-path (F-P) models of optical beams is an approach for nonlinearity analysis in nano-metrology systems and sensors based on the laser interferometers. In this paper, the frequency-path models of four nano-metrology laser interferometry systems are designed, analyzed and simulated, including conventional and modified two- and three-longitudinal-mode laser interferometers. The frequency-path model can be used for nonlinearity error analysis resulting from imperfect alignment of optical head and non-ideal laser polarization states. The number of active F-P element in these systems is calculated by multiplying the number of frequency and paths. The number of active F-P elements for conventional and modified two-mode laser interferometer is 4, and this is 6 for conventional and modified three-mode laser interferometer. The output interference terms can be calculated from the active F-P elements which is 10 for conventional and modified two-mode interferometer and is 21 for conventional and modified three-mode one. The interference terms include optical power, ac interference, dc interference, and ac reference. These terms are also investigated in zero (fixed target), low (2mm/s), and high (20mm/s) target velocities using frequency spectrum of photocurrents.
کلیدواژههای انگلیسی مقاله
نویسندگان مقاله
s علیایی |
nano-photonics and optoelectronics research laboratory norlab , shahid rajaee teacher training university srttu , lavizan, tehran, i. r. iran
سازمان اصلی تایید شده
: دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی (Shahid rajaee teacher training university)
z دشتبان |
nano-photonics and optoelectronics research laboratory norlab , shahid rajaee teacher training university srttu , lavizan, tehran, i. r. iran
سازمان اصلی تایید شده
: دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی (Shahid rajaee teacher training university)
نشانی اینترنتی
http://www.ijnnonline.net/article_6113_2ad1a91b254b2e92de4fd174d5a326de.pdf
فایل مقاله
فایلی برای مقاله ذخیره نشده است
کد مقاله (doi)
زبان مقاله منتشر شده
en
موضوعات مقاله منتشر شده
نوع مقاله منتشر شده
برگشت به:
صفحه اول پایگاه
|
نسخه مرتبط
|
نشریه مرتبط
|
فهرست نشریات