این سایت در حال حاضر پشتیبانی نمی شود و امکان دارد داده های نشریات بروز نباشند
Journal of Nanostructures، جلد ۱، شماره ۱، صفحات ۵۴-۶۱
عنوان فارسی
چکیده فارسی مقاله
کلیدواژه‌های فارسی مقاله
عنوان انگلیسی Deconvoluted Si 2p Photoelectron Spectra of Ultra thin SiO2 film with FitXPS method
چکیده انگلیسی مقاله The main impetus for our research is provided by the growing interest worldwide in ultra thin silicon dioxide on silicon based nano devices. The obvious need for better knowledge in the ultra thin gate silicon dioxides, is motivated both by interests in fundamental research and phenomenology as well as by interests in possible applications, which can be found with better fitting of experimental spectra. The up – and down- spin roles are considered for studying the nano structural properties of bulk, interface and surface states of ultra thin film, down to 2 nm and also appealing to the field of surface science. The obtained results show the above states can be determined and distinguished with spin orientations in FitXPS method.
کلیدواژه‌های انگلیسی مقاله
نویسندگان مقاله a بهاری |
department of physics, university of mazandaran, babolsar
سازمان اصلی تایید شده: دانشگاه مازندران (Mazandaran university)

نشانی اینترنتی http://jns.kashanu.ac.ir/article_5245_445040d0c230f977596b0974b764cacc.pdf
فایل مقاله فایلی برای مقاله ذخیره نشده است
کد مقاله (doi)
زبان مقاله منتشر شده en
موضوعات مقاله منتشر شده
نوع مقاله منتشر شده
برگشت به: صفحه اول پایگاه   |   نسخه مرتبط   |   نشریه مرتبط   |   فهرست نشریات