این سایت در حال حاضر پشتیبانی نمی شود و امکان دارد داده های نشریات بروز نباشند
هوش محاسباتی در مهندسی برق، جلد ۱۲، شماره ۳، صفحات ۱۹-۳۲
عنوان فارسی فلیت الویت‌دار: روشی برای افزایش قابلیت اطمینان شبکه‌های بر تراشه در برابر خطای نرم با در نظر گرفتن خطای چند - رخداد واژگونی
چکیده فارسی مقاله اشکال نرم، یکی از مهم‌ترین چالش‌هایی است که قابلیت اطمینان یک سیستم مبتنی بر شبکه‌های برتراشه را به مخاطره می‌اندازد. این اشکال به‌طور عمده در میانگیرهای شبکه‌های برتراشه رخ می‌دهد. نظر به اینکه این میانگیرها بین 50 تا 90 درصد از مساحت راهگزین‌ها را تشکیل می‌دهند، احتمال بروز اشکال نرم، بالا است. افزایش مستمر فشردگی تراشه‌ها (از 130 نانومتر به 22 نانومتر) موجب شده است نرخ رخداد اشکال تک - رخداد واژگونی 6 تا 7 برابر شود. همچنین، کوچک‌تر شدن اندازۀ فناوری نیز موجب شده است احتمال تبدیل اشکالات تک ‌- رخداد واژگونی به چند -رخداد واژگونی افزایش یابد؛ به گونه‌ای که پیش‌بینی می‌شود بیشتر اشکالات نرم در سال 2021 از نوع چند - رخداد واژگونی باشند. بسیاری از روش‌های مختلف اجتناب و تحمل‌پذیری اشکال نرم، توانایی مقابله با اشکال چند - رخداد را به علت الگوهای مختلف اینگونه اشکالات ندارند. همچنین با افزایش فناوری، اشکال هم‌شنوایی مابین سیم‌ها درحال افزایش است. هدف این مقاله، ارائۀ روشی است که ضمن بهبود روش‌های تحمل‌پذیری اشکال تک - رخداد واژگونی در میانگیرها، به تحمل اشکال چند - رخداد واژگونی و هم‌شنوایی نیز قادر باشند. این روش، فلیت الویت‌دار نام دارد. با توجه به میزان اهمیت متفاوت فلیت‌ها، رویکردهای در نظر گرفته شده برای مقابله با خطاها در فلیت‌های سرآیند و دیگر فلیت‌ها نظیر فلیت‌های داده، متفاوت است؛ به این صورت که روش در نظر گرفته شده برای مقابله با خطای فلیت سرآیند، مبتنی بر برگ‌برگ گذاری است. برای تشخیص خطای فلیت‌های داده نیز از ترکیب روش‌های کدینگ و کدگذاری اجتناب از هم‌شنوایی استفاده شده است. در نتایج ارزیابی کارایی و سخت‌افزاری، بهبود روش پیشنهادی نسبت به روش‌های موجود نشان داده شده است.
کلیدواژه‌های فارسی مقاله اشکالات تک - رخداد واژگونی، اشکالات چند - رخداد واژگونی، اشکال نرم، شبکه‌های بر تراشه، ‌میانگیر،
عنوان انگلیسی Priority Filt: A Way to Increase Network Reliability on Chip against Soft Error by Considering Multiple Bit Upset
چکیده انگلیسی مقاله One of the most important challenges that threaten the reliability of network-based chips is soft errors. These problems occur mainly in buffers of on the chip networks. The shrinking size of the technology has also increased the likelihood of converting single-event upset errors set to multi-event upsets, so it is predicted that by 2021 most soft errors of the multi-event reversal type will occur. Many different methods of avoiding and tolerating soft errors do not have the ability to deal with multi-event events due to different patterns. On the other hand, the rate of crosstalk fault is increasing. The purpose of this paper is to provide a method that, while improving the tolerance of single-event reversal events in buffers, is also able to tolerate multi-event upsets. The proposed method that is called Priority Flit is based on the different importance of tailer and data flits. In the other words, the fault tolerance method against soft errors in tailor and data is different. The second one is leafing and the second one is based on crosstalk avoidance and Hamming code. Results show improvements in the terms of hardware and performance with respect to the state-of-the-art mechanism.
کلیدواژه‌های انگلیسی مقاله اشکالات تک - رخداد واژگونی, اشکالات چند - رخداد واژگونی, اشکال نرم, شبکه‌های بر تراشه, ‌میانگیر
نویسندگان مقاله زهرا شیرمحمدی |
استادیار، دانشکده مهندسی کامپیوتر - دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی – تهران - ایران

مجتبی فرمانی |
دانشجو، دانشکده مهندسی کامپیوتر - دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی – تهران - ایران

هادی زمانی سبزی |
دانشجو، دانشکده مهندسی کامپیوتر - دانشگاه ریورساید – کالیفرنیا - آمریکا

نشانی اینترنتی https://isee.ui.ac.ir/article_25357_e0b31b6ef226f696c832c9fa8ca58292.pdf
فایل مقاله فایلی برای مقاله ذخیره نشده است
کد مقاله (doi)
زبان مقاله منتشر شده fa
موضوعات مقاله منتشر شده
نوع مقاله منتشر شده
برگشت به: صفحه اول پایگاه   |   نسخه مرتبط   |   نشریه مرتبط   |   فهرست نشریات