این سایت در حال حاضر پشتیبانی نمی شود و امکان دارد داده های نشریات بروز نباشند
سنجش و ایمنی پرتو، جلد ۹، شماره ۵، صفحات ۱-۱۲
عنوان فارسی بررسی اثرات تخریبی تابش یون‌های هلیوم و آرگون تولید شده در دستگاه پلاسمای کانونی بر روی تنگستن
چکیده فارسی مقاله در این تحقیق اثرات تخریبی یون‌های پرانرژی هلیوم و آرگون تولید شده در دستگاه پلاسمای کانونی کم‌انرژی نوع مدر بر روی سطح تنگستن مورد بررسی قرار گرفت. نمونه‌های تنگستن در 20 پالس دستگاه پلاسمای کانونی به‌طور جداگانه با یون‌های آرگون و هلیوم مورد تابش قرار گرفتند. سطح نمونه‌های خام و تابش‌دهی شده تنگستن با میکروسکوپ الکترونی آنالیز شد. میکروگراف‌های SEM نشان می‌دهد که تاول‌های متراکم با اندازه تقریبی چند صد نانومتر در سطح تنگستن در اثر تابش یون‌های هلیوم ایجاد شده‌اند ولی در نمونه‌های تابش‌دهی شده با یون‌های پر انرژی آرگون ترک‌های منظم دیده می‌شود که در سطح تنگستن گسترش یافته‌اند. از آنالیز پراش اشعه ایکس برای بررسی تغییرات بلوری ایجاد شده در تنگستن ناشی از تابش استفاده شد. تابش یون‌های پر انرژی هیدروژن و آرگون باعث به‌وجود آمدن تغییراتی در مکان قله‌ها، شدت قله‌ها، پهنای پیک در نصف ارتفاع بیشینه (FWHM) و فاصله صفحات تنگستن شده، که نشان می دهد تابش یون‌های پر انرژی تولید شده در دستگاه پلاسمای کانونی ساختار بلوری تنگستن را نیز تحت تأثیر قرار داده است. با استفاده از کد لی [1] مشخصات باریکه یونی هلیوم و آرگون حاصل از دستگاه پلاسمای کانونی تعیین شد و با استفاده از کد SRIM [2] مقدار shot/Dpa و پروفایل تـراکم یـون‌های هلیـوم و آرگـون در عمـق‌های مختلف تنگستن محاسـبه شـد. نتـایج کد لی نشـان می‌دهد که در هر شـات به‌تـرتیب ion/cm2 1014 × 9/7 و ion/cm2 1014 × 25/0 یون هلیوم و آرگون تولید می‌شود. نتایج کد SRIM نشان می‌دهد که بیشترین تخریب ایجاد شده در تنگستن ناشی از یون‌های آرگون و هلیوم به‌ترتیب در عمق‌های 7 و 30 نانومتری و به اندازه dpa/shot 7/1 و 17/0 می‌باشد. هم‌چنین بیشترین تراکم یون‌های آرگون و هلیوم به‌ترتیب در عمق‌های 20 و 40 نانومتری رخ می‌دهد.
کلیدواژه‌های فارسی مقاله مواد مجاور با پلاسما، پلاسمای کانونی، باریکه یونی، آسیب تابشی، کد SRIM،
عنوان انگلیسی Damage studies on irradiated tungsten by helium and argon ions in a plasma focus device
چکیده انگلیسی مقاله Damage of tungsten due to helium and argon ions of a PF device was studied. Tungsten samples were irradiated by 20 shots of the plasma focus device with argon and helium as working gases, separately. The tungsten surface was analyzed by SEM, before and after irradiation. SEM revealed dense blisters with diameters of a few hundred nanometers, on the samples which were irradiated by helium ions, while on the samples irradiated by argon, cracks were developed on the surface. XRD analysis was used for crystallography of tungsten, before and after irradiation. Irradiation by helium and argon affects peak location, peak intensity, FWHM, and spacing of planes, which shows that the crystalline structure of tungsten is affected by irradiation.Characteristics of ion beam of the plasma focus device were calculated by the Lee code. The depth profiles of dpa/shot and ion concentration were calculated using the SRIM code. Using the Lee code, the average fluencies of helium and argon ion beams of the PF device were calculated about 7.9×1014 cm-2 and 0.25×1014 cm2 per shot, respectively. SRIM revealed that the maximum DPA was about 1.7 and 0.17 and occur in the depth of 7 nm and 30 nm for argon and helium, respectively. Also, the maximum concentration occurs in the depth of 20 nm and 40 nm for argon and helium, respectively.
کلیدواژه‌های انگلیسی مقاله مواد مجاور با پلاسما, پلاسمای کانونی, باریکه یونی, آسیب تابشی, کد SRIM
نویسندگان مقاله میرمحمدرضا سیدحبشی |
پژوهشکده پلاسما و گداخت هسته ای، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، سازمان انرژی اتمی ایران، تهران

بابک شیرانی بیدآبادی |
گروه مهندسی هسته ای، دانشکده فیزیک، دانشگاه اصفهان، اصفهان

محمد امیرحمزه تفرشی |
پژوهشکده پلاسما و گداخت هسته ای، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، سازمان انرژی اتمی ایران، تهران

فریدالدین صدیقی |
پژوهشکده پلاسما و گداخت هسته ای، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، سازمان انرژی اتمی ایران، تهران

علی نصیری |
پژوهشکده پلاسما و گداخت هسته ای، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، سازمان انرژی اتمی ایران، تهران

نشانی اینترنتی https://rsm.kashanu.ac.ir/article_112382_667ef2d5e84e3b3f268177fdc4a5191e.pdf
فایل مقاله فایلی برای مقاله ذخیره نشده است
کد مقاله (doi)
زبان مقاله منتشر شده fa
موضوعات مقاله منتشر شده
نوع مقاله منتشر شده
برگشت به: صفحه اول پایگاه   |   نسخه مرتبط   |   نشریه مرتبط   |   فهرست نشریات