این سایت در حال حاضر پشتیبانی نمی شود و امکان دارد داده های نشریات بروز نباشند
Journal of Nanostructures، جلد ۱۴، شماره ۱، صفحات ۱۲-۱۹
عنوان فارسی
چکیده فارسی مقاله
کلیدواژه‌های فارسی مقاله
عنوان انگلیسی Properties of CdS Thin Films Prepared by Thermal Evaporation
چکیده انگلیسی مقاله Thermal evaporation was used to create pure CdS thin films, which were then analyzed using XRD and UV-VIS spectroscopy. With changes in thickness, it was discovered that the particle size decreased from 23.6 nm to 21.7 nm. From the XRD data, the impact of thickness on strain and dislocation has been estimated. To determine how optical characteristics changed as thickness changed, transmission data were examined in the 200–1100 nm spectral range. Additionally, it was found that as thickness increased, between 2.444 and 2.401 eV, the band gap decreased.
کلیدواژه‌های انگلیسی مقاله Band gap,Thermal evaporation,Thin cadmium sulfide films,transmission,X-ray diffraction (XRD)
نویسندگان مقاله Eman M. Noori |
Radiology department, Institute of Medical Technology- Baghdad, Middle Technical University, Iraq

نشانی اینترنتی https://jns.kashanu.ac.ir/article_114210_16d0036c5c576ec41757e4cb7525c242.pdf
فایل مقاله فایلی برای مقاله ذخیره نشده است
کد مقاله (doi)
زبان مقاله منتشر شده en
موضوعات مقاله منتشر شده
نوع مقاله منتشر شده
برگشت به: صفحه اول پایگاه   |   نسخه مرتبط   |   نشریه مرتبط   |   فهرست نشریات