این سایت در حال حاضر پشتیبانی نمی شود و امکان دارد داده های نشریات بروز نباشند
Iranian Journal of Materials Science and Engineering، جلد ۲۲، شماره ۱، صفحات ۲۷-۳۶
عنوان فارسی
چکیده فارسی مقاله
کلیدواژه‌های فارسی مقاله
عنوان انگلیسی Cobalt Thin Films Synthesis and Structural and Morphological Pproperties
چکیده انگلیسی مقاله Series of cobalt (Co) thin films with various thicknesses ranging from 50 to 400 nm have been fabricated using thermal heating under vacuum. We explore the impact of the thickness layer on the structural and morphological properties of the films. X-Ray diffractions and atomic force microscopy tools have been used to carry out the structural and the morphological properties of these films. The films are principally c-axis oriented, polycrystalline and with <0001> texture. The crystallites sizes have been found to range from 18.40 to 79.46 nm, and they increase with increasing thickness. The ratio c/a value indicates that Co films are subject to a tensile stress, probably because of the way the film grows. The microstrain is positive and ranges from 1.53 to 3.56%. Atomic force microscopy observations indicate the formation of crystallites according to the Stranski-Krastanov mode. The films topographical surfaces are very smooth, the average root mean square roughness ranging from 0.2 to 1.5 nm. 
Keywords: Co; Thin films; XRD; Crystallite size; AFM.

 
کلیدواژه‌های انگلیسی مقاله Thin films,XRD,Crystallite size,AFM.,Co
نویسندگان مقاله | Ahmed KHARMOUCHE
SETIF1 University Ferhat ABBAS
نشانی اینترنتی http://ijmse.iust.ac.ir/browse.php?a_code=A-10-5637-1&slc_lang=en&sid=1
فایل مقاله فایلی برای مقاله ذخیره نشده است
کد مقاله (doi)
زبان مقاله منتشر شده en
موضوعات مقاله منتشر شده Materials characterisation for AM
نوع مقاله منتشر شده Research Paper
برگشت به: صفحه اول پایگاه   |   نسخه مرتبط   |   نشریه مرتبط   |   فهرست نشریات