|
اندازه گیری و مقایسه ضخامت سمان زینک فسفات آریادنت و زینک فسفات هاروارد با لیزر هلیوم-نئون به روش تداخلی اپتیکی
|
| الهی پرویز * ، نادگران حمید * |
|
|
|
چکيده: (7605 مشاهده) |
| هدف: ضخامت سمان زینک فسفات آریادنت و هاروارد به روش تداخل اپتیکی و با استفاده از یک لیزر هلیوم- نئون اندازه گیری شده است. از این سمانها و محصولات مشابه برای چسباندن روکش های دایمی در دندانپزشکی استفاده می شود. در این تحقیق ضخامت سمان آریادنت و سمان هاروارد مقایسه شده است.مواد و روش ها: ده نمونه آزمایشگاهی از سمان زینک فسفات آریادنت و هاروارد که بین دو تیغه شیشه ای به ضخامت دو میلی متر قرار داده شده و با نیروی یکنواخت 150 نیوتن سفت شده بود، تحت تابش پرتوی لیزر هلیوم- نئون قرار گرفت. محاسبات انجام شده بر اساس عبور پرتوی لیزر از ورای تیغه های شیشه ای و هوای بین آنها و نقش تداخلی حاوی نوارهای هم مرکز روشن و تاریک روی پرده انجام شد.نتایج نتایج نشان می دهد که ضخامت سمان آریادنت وقتی تحت نیروی 150 نیوتن قرار می گیرد 5/35 میکرون بوده که از ضخامت سمان هاروارد به میزان5/8 میکرون بیشتر است.نتیجه گیری: این مطالعه نشان داد که سمان هاروارد از نظر ضخامت لایه ای بهتر از سمان آریادنت بوده به طوری که می تواند در تطابق ریختگی با دندان و نشستن کامل رستوریشن و نیز حفظ و استحکام اتصال بین دندان بسیار بهتر عمل کند. |
|
| واژههای کلیدی: ضخامت سمان آریادنت، هاروارد، روش تداخلی، ضخامت لایه های نازک، زینک فسفات |
|
|
|
نوع مطالعه: پژوهشي |
موضوع مقاله:
عمومى
دریافت: ۱۳۸۵/۶/۱۵
|
| * نشانی نویسنده مسئول: فیزیک دانشکده علوم دانشگاه شیراز |
|
|
|
|
|
|
| ارسال نظر درباره این مقاله |
|
|
|
