این سایت در حال حاضر پشتیبانی نمی شود و امکان دارد داده های نشریات بروز نباشند
صفحه اصلی
درباره پایگاه
فهرست سامانه ها
الزامات سامانه ها
فهرست سازمانی
تماس با ما
JCR 2016
جستجوی مقالات
یکشنبه 3 اسفند 1404
مهندسی مکانیک مدرس
، جلد ۸، شماره ۱، صفحات ۸۷-۹۷
عنوان فارسی
اندازهگیری میزان صافی سطح زبر با استفاده از حسگر خازنی
چکیده فارسی مقاله
توپوگرافی و اندازهگیری صافی سطح زبر با استفاده از اندازهگیری لیزر اینترفرومتری میکروسکوپ زیگو1 ناممکن است. بهدلیل دقت بالا و همچنین مدت زمان کوتاه اندازهگیری، استفاده از روش خازنی برای اندازهگیری توپوگرافی و صافی سطح زبر از جنس کوارتز پیشنهاد میشود. با استفاده از این روش میتوان نقشه خطا را برای فرایندهای اصلاح خطای شکل، مانند پولیشکاری با کنترل کامپیوتری(CCP) ، پرداخت با ذرات ساینده مغناطیسی(MRF) ، روش جت سیال ساینده و اصلاح بهروش یونی، ایجاد کرد. در این تحقیق توپوگرافی خطای شکل سطح زبر بهکمک حسگر خازنی اندازهگیری و قطعه موردنظر با استفاده از روش غبار سیال ساینده اصلاح خطا شد و ایده اصلاح خطای شکل سطح زبر به واقعیت پیوست. مشخص شد که در میان روشهای اندازهگیری میانگین - مساحت، روش اندازهگیری خازنی، توانایی اندازهگیری و تحقق ایده اصلاح خطای شکل، سطح زبر را دارد. اندازهگیری صافی سطح قطعهای که زبری Rc آن در حدود صافی سطح قطعه است یکی از ویژگیهای منحصر بهفرد روش ارائه شده است.
کلیدواژههای فارسی مقاله
عنوان انگلیسی
Measuring Flatness of a Rough Surface using a Capacitor Probe
چکیده انگلیسی مقاله
Measuring topography and flatness of nontransparent rough surfaces using a laser interferometer topography measuring (Zygo) machine is impossible. Due to high accuracy and short measuring time, capacitor probe is a good candidate for measuring topography and flatness of a rough surface. Measuring by a capacitor probe is an average area measuring method and it is suitable for measurment of machinment processes such as ion or blast figure correction, computer control polishing (CCP) and magnetorheological finishing (MRF) methods. The idea of a rough surface which directly can be used for corrective figuring is generated by measuring flatness and waviness of it through a capacitive probe. Among the area averaging methods, the surface capacitance method can be used to elaborate the idea of corrective figuring of a rough surface. Measuring flatness of a rough surface whose roughness (Ra) is in the range of out of flatness is another technical property of the presented method. Keywords: Surface Metrology, Capacitance Measurement, Figure Correcting, Precision Machining.
کلیدواژههای انگلیسی مقاله
نویسندگان مقاله
حسین امیر آبادی |
دانشگاه صنعتی نوشیروانی بابل
سازمان اصلی تایید شده
: دانشگاه صنعتی نوشیروانی بابل (Babol noshirvani university of technology)
محسن شاکری |
دانشگاه صنعتی نوشیروانی بابل
سازمان اصلی تایید شده
: دانشگاه صنعتی نوشیروانی بابل (Babol noshirvani university of technology)
اسامو هوریچی | اسامو هوریچی
دانشگاه صنعتی تویوهاشی، آیچی - ژاپن
نشانی اینترنتی
http://mme.modares.ac.ir/article_1324_6a91fc3cd4f18b709e66a98fbbc74174.pdf
فایل مقاله
اشکال در دسترسی به فایل - ./files/site1/rds_journals/1256/article-1256-229081.pdf
کد مقاله (doi)
زبان مقاله منتشر شده
fa
موضوعات مقاله منتشر شده
نوع مقاله منتشر شده
برگشت به:
صفحه اول پایگاه
|
نسخه مرتبط
|
نشریه مرتبط
|
فهرست نشریات